GBT 5170.19-2018 環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 第19部分：溫度、振動.pdf

GB/T5170.19-2018環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 第19部分∶溫度、振動（正弦）綜合試驗設(shè)備

1  范圍

GB/T 5170的本部分規(guī)定了——測量儀器、測量不確定度、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、檢驗結(jié)果、檢驗周期。

本部分適用于GB/T2423.35、GB/T2423.36和GB/T2424.22溫度（低溫、高溫）、振動（正弦）綜合試驗設(shè)備的檢驗。

本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。

2  規(guī)范性引用文件

下列文件對于本文件的應(yīng)用是不可少的。凡是注日期的引用文件，僅注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。

GB/T 2423.35  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  第2部分∶試驗方法  試驗Z/AFe∶散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動（正弦）綜合試驗（GB/T2423.35—2005，IEC60068-2-50∶1983，IDT）

GB/T 2423.36 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  第2部分∶試驗方法  試驗Z/BFc∶散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動（正弦）綜合試驗（GB/T2423.36—2005，IEC60068-2-51∶1983，IDT）

GB/T 5170.1—2016 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 第1部分∶總則

GB/T 16839.1  熱電偶  第1部分∶電動勢規(guī)范和允差（GB/T 16839.1—2018，IEC60584-1∶2013,IDT)

GB/T 30121  工業(yè)鉑熱電阻及鉑感溫元件（GB/T 30121—2013，IEC 60751∶2008，IDT）

JJF 1059.1—2012  測量不確定度評定與表示